芯片老化試驗(yàn)箱
發(fā)布日期：2020/11/5 14:36:44 點(diǎn)擊次數(shù)：2718
產(chǎn)品特點(diǎn)
SATAI/II/III 的測(cè)試
ISATA,PCIE的測(cè)試片數(shù)定制化，例如 96片、156片、216片、316片等等
溫度范圍可選-70度~ + 180度的測(cè)試
具備異常斷電測(cè)試和老化測(cè)試
自動(dòng)化溫控測(cè)試
全部采用軟件進(jìn)行智能化控制測(cè)試
可個(gè)性化定制測(cè)試軟件
快速升降溫控制
支持 PCIE/EMMC/UFS/DRAM/-Flash老化的定制化測(cè)試
網(wǎng)絡(luò)化控制，可以異地控制測(cè)試并看測(cè)試結(jié)果
可開發(fā)APP遠(yuǎn)程控制測(cè)試
性能技術(shù)指標(biāo)
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型號(hào)
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TYCT-300
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溫度控制范圍
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RT
+ 5℃~ + 150℃可選
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融分布均勻度（空載）
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±2℃
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測(cè)試數(shù)量
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300片可選
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電源
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220VAC ±10%, 50HZ
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