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低氣壓、加速壽命測試
芯片老化試驗箱
型號：TYCT
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產(chǎn)品說明、技術(shù)參數(shù)及配置
SATAI/II/III 的測試
ISATA,PCIE的測試片數(shù)定制化，例如 96片、156片、216片、316片等等
溫度范圍可選-70度~ + 180度的測試
具備異常斷電測試和老化測試
自動化溫控測試
全部采用軟件進行智能化控制測試
可個性化定制測試軟件
快速升降溫控制
支持 PCIE/EMMC/UFS/DRAM/-Flash老化的定制化測試
網(wǎng)絡(luò)化控制，可以異地控制測試并看測試結(jié)果
可開發(fā)APP遠程控制測試
性能技術(shù)指標
|
型號 |
TYCT-300 |
|
溫度控制范圍 |
RT + 5℃~ + 150℃可選 |
|
融分布均勻度（空載） |
±2℃ |
|
測試數(shù)量 |
300片可選 |
|
電源 |
220VAC ±10%, 50HZ |
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